LASER DIRECT WRITING

微細パターンから3D光学構造まで、
大面積に描画

2D・3Dともに最大□400mm。LS・ホールなどの2Dパターンは最小寸法1μm、MLA・DOEなどの3D構造は最小寸法10μm・高さ40μm以下に対応します。

2D最小寸法1μm
最大描画領域2D / 3D □400mm
3D対応寸法10μm以上 / 高さ40μm以下

CAPABILITY

2Dから3Dまで、マスクレスで描画

2次元描画LS・ホール形状は最小寸法1μm以上。最大□400mmに対応。
3次元描画
(グレースケール露光)
MLA・DOEなどは最小寸法10μm以上、高さ40μm以下。最大□400mmに対応。
代表的な材料フォトレジスト、Ni、Cu等(後工程を含む)
代表用途マイクロレンズアレイ、微細流路、再帰反射形状、光学素子、複製用モールド
数値は装置能力・既存実績の目安です。材料、形状、面積、レジスト厚、後工程により対応条件が変わります。

EXAMPLES

加工例

01

再帰反射形状

ピッチ30μm、高さ15μm、□150mm以上の加工例。局所的なレーザー強度補正に対応。

02

マイクロレンズアレイ

半径15μm、深さ15μmの曲面形状例。凹・凸形状に対応。

03

微細流路・立体構造

最小寸法10μm以上、高さ40μm以下のピラー、ホール、溝を立体的に配置。

04

大面積パターン

2D・3Dともに最大□400mmへ対応。面内補正を含めて検討します。

PROCESS IMAGES

3次元・光学形状の加工例

グレースケール露光による立体形状と、その測定・解析結果を掲載しています。

六角形マイクロレンズアレイのSEM像
六角形マイクロレンズアレイ規則的に配置したマイクロ光学構造。
マイクロレンズアレイの3D測定像
マイクロレンズアレイ 3D測定像Radius 15μm/Depth 15μm
画像提供:国立研究開発法人物質・材料研究機構
再帰反射形状の3D測定解析像
再帰反射形状の3D測定・解析像立体形状を測定データで評価します。
回折光学素子(DOE)の多階調レジストパターン3D測定像
回折光学素子(DOE)3D測定像Pixel 10μm/Height 14μm/8階調/Step 2μm
依頼元:国立研究開発法人産業技術総合研究所

CONTACT

2D・3Dの大面積描画を相談する

断面形状、最小寸法、描画面積、材料、希望時期をお知らせください。